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Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits / editors, Sandeep K. Goel, Krishnendu Chakrabarty - xv, 247 páginas - Devices, circuits, and systems .

ISBN: 9781439829417 (encuadernado en tela : pápel alcalino)

Subjects--Topical Terms:
Semiconductores complementarios de óxido metálico--Pruebas

LC Class. No.: TK7871.99M44 / T47

Dewey Class. No.: 621.39/732