Universidad Nacional Autónoma de México
Facultad de Ingeniería. Anexo
Catálogo de la Biblioteca "Mtro. Enrique Rivero Borrell"

Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits / (Registro nro. 9135)

Detalles MARC
000 -CABECERA
campo de control de longitud fija 00975nam a2200253zi 4500
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN
campo de control 20220224111637.0
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 140320s2014 xxu 000 0 eng
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro 9781439829417 (encuadernado en tela : pápel alcalino)
035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA
Número de control de sistema MX001001645515
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN
Centro catalogador/agencia de origen DLC
Lengua de catalogación spa
-- eng
Centro/agencia transcriptor DLC
Normas de descripción rda
Centro/agencia modificador DLC
-- UNAMX
050 00 - SIGNATURA TOPOGRÁFICA DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO
Número de clasificación TK7871.99M44
Número de documento/Ítem T47
082 00 - NÚMERO DE LA CLASIFICACIÓN DECIMAL DEWEY
Número de clasificación 621.39/732
Número de edición 23
245 00 - MENCIÓN DE TÍTULO
Título Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits /
Mención de responsabilidad, etc. editors, Sandeep K. Goel, Krishnendu Chakrabarty
264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT
Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright Boca Raton :
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante CRC Press,
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright 2014
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión xv, 247 páginas
336 ## - TIPO DE CONTENIDO
Término de tipo de contenido texto
Fuente rdacontent
337 ## - TIPO DE MEDIO
Nombre/término del tipo de medio sin medio
Fuente rdamedia
338 ## - TIPO DE SOPORTE
Nombre/término del tipo de soporte volumen
Fuente rdacarrier
490 0# - MENCIÓN DE SERIE
Mención de serie Devices, circuits, and systems
650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada Semiconductores complementarios de óxido metálico
Subdivisión general Pruebas
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Goel, Sandeep K.,
Término indicativo de función/relación editor de la compilación
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Chakrabarty, Krishnendu,
Término indicativo de función/relación editor de la compilación
Existencias
Estado de retiro Estado de pérdida Fuente del sistema de clasificación o colocación Estado dañado No para préstamo Código de colección Localización permanente Ubicación/localización actual Ubicación en estantería Total de préstamos Clasificación completa Código de barras Fecha visto por última vez Número de copia Tipo de ítem Koha
    Clasificación de la Biblioteca del Congreso     General Libros Libros Libros   TK7871.99M44 T47 196133 14/03/2018 1 Libros


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