TY  - BOOK
AU  - Weide-Zaage,Kirsten
AU  - Chrzanowska-Jeske,Malgorzata
TI  - Semiconductor devices in harsh conditions
T2  - Devices, circuits, and systems
SN  - 9781498743808
AV  - TK7871.85 S4535
U1  - 621.3815/2 23
PY  - 2017///]
CY  - Boca Raton
PB  - CRC Press Taylor & Francis, Group
KW  - Semiconductores
KW  - Confiabilidad
KW  - Ambientes extremos
KW  - Pruebas ambientales
ER  -