Sato, Yoshihiko, <br/><br/>
Value analysis tear-down :  a new process for product development and innovation / 
Yoshihiko Sato and J. Jerry Kaufman 
 - x, 206 páginas :  ilustraciones 
<br/><br/><label>ISBN: </label>0831132035 (profesional/libro de texto : papel alcalino) 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Análisis del valor (Control de costos)<br/>Productividad industrial<br/>Productos nuevos<br/>Economía industrial
<br/><br/><label>LC Class. No.: </label>HD47.3  / S38 
<br/><br/><label>Dewey Class. No.: </label>658.5/75