Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits / 
editors, Sandeep K. Goel, Krishnendu Chakrabarty 
 - xv, 247 páginas 
 - Devices, circuits, and systems .
<br/><br/><label>ISBN: </label>9781439829417 (encuadernado en tela : pápel alcalino) 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Semiconductores complementarios de óxido metálico--Pruebas
<br/><br/><label>LC Class. No.: </label>TK7871.99M44  / T47 
<br/><br/><label>Dewey Class. No.: </label>621.39/732