TY  - BOOK
AU  - Goel,Sandeep K.
AU  - Chakrabarty,Krishnendu
TI  - Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits
T2  - Devices, circuits, and systems
SN  - 9781439829417 (encuadernado en tela : pápel alcalino)
AV  - TK7871.99M44 T47
U1  - 621.39/732 23
PY  - 2014///
CY  - Boca Raton
PB  - CRC Press
KW  - Semiconductores complementarios de óxido metálico
KW  - Pruebas
ER  -