Testing for small-delay defects in nanoscale CMOS integrated circuits / editors, Sandeep K. Goel, Krishnendu Chakrabarty
Tipo de material: TextoSeries Devices, circuits, and systemsEditor: Boca Raton : CRC Press, 2014Descripción: xv, 247 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 9781439829417 (encuadernado en tela : pápel alcalino)Tema(s): Semiconductores complementarios de óxido metálico -- PruebasClasificación CDD: 621.39/732 Clasificación LoC:TK7871.99M44 | T47Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros | Libros Libros | General | TK7871.99M44 T47 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 196133 |
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