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Nonlinear transistor model parameter extraction techniques / edited by Matthias Rudolph, Christian Fager, David E. Root
Tipo de material:
TextoSeries The Cambridge RF and microwave engineering seriesEditor: Cambridge, United Kingdom : Cambridge University Press, 2012Descripción: xiv, 352 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 9780521762106 (empastado, cubierta dura)Tema(s): Transistores -- Modelos matemáticos | Diseño de circuitos electrónicosClasificación CDD: 621.3815/28 Clasificación LoC:TK7871.9 | N65
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros Libros | General | TK7871.9 N65 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 192631 | ||
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