Value analysis tear-down : a new process for product development and innovation / Yoshihiko Sato and J. Jerry Kaufman
Tipo de material:
TextoEditor: New York : Industrial : Society of Manufacturing Engineers, 2005Descripción: x, 206 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0831132035 (profesional/libro de texto : papel alcalino)Tema(s): Análisis del valor (Control de costos) | Productividad industrial | Productos nuevos | Economía industrialClasificación CDD: 658.5/75 Clasificación LoC:HD47.3 | S38
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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