| 000 | 00921nam a2200277zi 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 005 | 20220224111640.0 | ||
| 008 | 140901s2012 xxua b 001 0 eng | ||
| 020 | _a9781466500556 (empastado, cubierta dura) | ||
| 035 | _aMX001001673349 | ||
| 040 |
_aDLC _bspa _erda _cDLC _dUNAMX |
||
| 050 | 0 |
_aTK7871.99M44 _bM35 |
|
| 082 | 0 | 0 |
_a621.3815/284 _223 |
| 100 | 1 |
_aMaiti, C. K., _eautor |
|
| 245 | 1 | 0 |
_aStrain-engineered MOSFETs / _cC. K. Maiti, T. K. Maiti |
| 264 | 1 |
_aBoca Raton : _bCRC Press/Taylor & Francis Group, _c[2013] |
|
| 264 | 4 | _c©2013 | |
| 300 |
_axix, 300 páginas : _bilustraciones |
||
| 650 | 0 |
_aTransistores Mosfet _xConfiabilidad |
|
| 650 | 0 |
_aCircuitos integrados _xTolerancia a las fallas |
|
| 650 | 0 | _aEsfuerzo y tensión | |
| 700 | 1 |
_aMaiti, T. K., _eautor |
|
| 336 |
_atexto _2rdacontent |
||
| 337 |
_asin medio _2rdamedia |
||
| 338 |
_avolumen _2rdacarrier |
||
| 999 |
_c9343 _d9343 |
||